Función básica: El banco de pruebas de resistividad de materiales plásticos y caucho tipo SZT-G, cuando está equipado con un instrumento de cuatro sondas, forma un sistema de prueba completo. Es un dispositivo de medición integral profesional multiusos para medir la resistividad/resistencia cuadrada de materiales de caucho y plástico o películas semiconductoras basado en el método de cuatro cuchillas paralelas y el principio de medición de cuatro terminales. (En adelante denominado banco de pruebas)
De conformidad con la norma nacional: GB/T 3048.3-2007 "Métodos de prueba para propiedades eléctricas de alambres y cables - Parte 3: Prueba de resistividad volumétrica de materiales semiconductores de caucho y plástico"
Los componentes básicos: el banco de pruebas se compone de cajas de muestra, grupos de electrodos de prueba, plataformas elevadoras, soportes, cables de conexión y otras piezas.
Compatibilidad y compatibilidad: Este banco de pruebas es compatible con todos los instrumentos de prueba de cuatro sondas de nuestra empresa. Este banco de pruebas es compatible con la gran mayoría de los instrumentos de prueba de resistividad/resistencia cuadrada de cuatro sondas de pares nacionales.
Ventajas y características: El grupo de electrodos de este banco de pruebas se eleva y baja en un modo manual rápido de voltaje constante, lo que presenta buena estabilidad, estructura compacta y medición simple.
La caja de muestras es desmontable y portátil, está fabricada con materiales resistentes a altas temperaturas, resistentes a la corrosión y altamente aislantes, y está equipada con electrodos de conexión. Después de limpiar y sujetar las muestras estándar, son convenientes para secar, envejecer, probar, mover, etc., y evitar la contaminación causada por el contacto manual con las muestras, lo que puede afectar la precisión de la prueba.
El instrumento es adecuado para probar la resistencia cuadrada y el rendimiento de resistividad de materiales semiconductores o de caucho y plástico en fábricas de materiales semiconductores de película delgada, fábricas de materiales de caucho y plástico, fábricas de materiales metálicos de película delgada, fábricas de capacitores, unidades de investigación científica, colegios y universidades, etc.
Rango de medición, resolución
2.1.1 Rango de prueba de resistividad
(Espesor d<2,2 mm, ancho w<50 mm)
Valor de medición de resistividad básica: 1,0×10 -6 a 5,00×10 5 Ω*cm
Resolución: 1,0×10 -7 a 1,0×10 ³ Ω*cm.
La relación entre la sección transversal específica sy el rango de medición se muestra en la Figura 2-1A.
2.1.2 Rango de prueba de resistencia cuadrada
Ancho de película de medición: 1mm≤w≤50mm
Valor de medición de resistencia cuadrada básica: 5,0×10-6 a 2.000×106 Ω/□
Resolución: 1,0×10 -4 a 1,0×10 ³ Ω/□.
La relación entre el ancho específico de la membrana w y el rango de medición se muestra en la Figura 2-1B.
2.2 Soporte de herramienta de prueba SZT-G50:
(1) Espaciado de la hoja de voltaje: 20 mm ± 0,2 %, longitud de la hoja: 60 mm
⑵ Espaciado actual entre hojas: 70 mm, longitud de la hoja: 60 mm
⑶ Pruebe las dimensiones externas del soporte de herramientas: 220 × 180 × 200 (largo × ancho × alto)
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